当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。 日期：日期：2026-10-31 来源： 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。 A.正确 B.错误 上一篇：当温度升高时，金属导体的电阻减小 下一篇：产生直流高压的半波整流电路由升压试验变压器T、高压硅堆V、滤波电容C和保护电阻R构成。 📖 相关文章 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
