一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。

一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。 A.正确 B.错误


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