融学-超声检测中，采用直探头进行垂直入射法检测，工件中存在（）缺陷时示波屏上既无工件底面波又无缺陷波。

日期：2025-01-07 栏目：上级目录
['A 大于声束截面且与探测面平行的', 'B 大于声束截面倾斜的', 'C 小于声束截面的', 'D 多个小于声束截面的']

自适应图片
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