['A 非接触式测量获取的数据有较大冗余', 'B 由于遮挡、干涉和测量设备的限制导致一部分数据缺失', 'C 尖锐边和产品边界附近的测量数据形成体外孤点', 'D 传统三坐标测量机的测量数据少速度慢']
融学-数据瑕疵产生的原因不包括:
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